Testing apparatus and testing method
WO2007125798
Art A1
8. November 2007
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007125798
- Aktenzeichen
- EP07741872
- Anmeldetag
- 18. April 2007
- Veröffentlichung
- 8. November 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04L27/00H04L27/18H04J15/00H04B17/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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