Apparatus and method for correcting xy coordinates in sample pattern inspecting apparatus
WO2007125938
Art A1
8. November 2007
Anmelder: EBARA CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007125938
- Aktenzeichen
- EP07742347
- Anmeldetag
- 25. April 2007
- Veröffentlichung
- 8. November 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/225H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- EBARA CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Ebara
Japanischer Hersteller von Pumpen, Kompressoren und Umwelttechnik mit Sitz in Tokio, gegründet 1912.
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