Method and system for classifying defect distribution, method and system for specifying causative equipment, computer program and recording medium
WO2007125941
Art A1
8. November 2007
Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007125941
- Aktenzeichen
- EP07742351
- Anmeldetag
- 25. April 2007
- Veröffentlichung
- 8. November 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66G01B11/30G01N21/956G06T1/00G06T7/00H01L21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sharp Kabushiki Kaisha
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sharp
Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.
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