Probe holder for various thickness substrates

WO2007133979 Art A1 22. November 2007

Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007133979
Aktenzeichen: EP07761914
Anmeldetag: 4. Mai 2007
Veröffentlichung: 22. November 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/067G01R1/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Tektronix, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Tektronix, Inc.

US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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