Image sensor with built-in thermometer for global black level calibration and temperature-dependent color correction
WO2007139788
Art A1
6. Dezember 2007
Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007139788
- Aktenzeichen
- EP07777219
- Anmeldetag
- 22. Mai 2007
- Veröffentlichung
- 6. Dezember 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04N5/217
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micron Technology, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Micron Technology
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.
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