Residual dc voltage evaluating method and evaluation device therefor

WO2007141935 Art A1 13. Dezember 2007

Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha, TOHOKU UNIVERSITY 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007141935
Aktenzeichen: EP07714786
Anmeldetag: 22. Februar 2007
Veröffentlichung: 13. Dezember 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G02F1/1337G02F1/13G02F1/133

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Sharp Kabushiki Kaisha
TOHOKU UNIVERSITY
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

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🇯🇵 Tohoku University

Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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