Die Level Metal Density Gradient For Improved Flip Chip Package Reliability

WO2007143269 Art A1 13. Dezember 2007

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007143269
Aktenzeichen: EP07759807
Anmeldetag: 30. März 2007
Veröffentlichung: 13. Dezember 2007
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/76

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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