End inclination angle measuring method, inspecting method and inspecting apparatus for objects having undulations, method for determining the position of illuminating means, irregularity inspecting apparatus, and illuminating position determining apparatus
WO2007145224
Art A1
21. Dezember 2007
Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007145224
- Aktenzeichen
- EP07745129
- Anmeldetag
- 12. Juni 2007
- Veröffentlichung
- 21. Dezember 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/26G01B11/06G01M11/00G01N21/88
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sharp Kabushiki Kaisha
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sharp
Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.
22.800 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.