Abnormal region detecting device and abnormal region detecting method

WO2007145235 Art A1 21. Dezember 2007

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007145235
Aktenzeichen: EP07745149
Anmeldetag: 13. Juni 2007
Veröffentlichung: 21. Dezember 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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