Focused-Beam Ellipsometer

WO2007148918 Art A1 27. Dezember 2007

Anmelder: Korea Research Institute of Standards and Science, Kmac 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007148918
Aktenzeichen: EP07747026
Anmeldetag: 20. Juni 2007
Veröffentlichung: 27. Dezember 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/21

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Korea Research Institute of Standards and Science
Kmac
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Research Institute of Standards and Science

Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.

452 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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