Semiconductor testing apparatus and semiconductor memory testing method

WO2008001543 Art A1 3. Januar 2008

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008001543
Aktenzeichen: EP07742039
Anmeldetag: 20. April 2007
Veröffentlichung: 3. Januar 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/56G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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