Surface inspecting apparatus and surface inspecting method

WO2008001731 Art A1 3. Januar 2008

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Japan System Design Co., Ltd., Sigma Co. Ltd., Sanzo Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008001731
Aktenzeichen: EP07767534
Anmeldetag: 25. Juni 2007
Veröffentlichung: 3. Januar 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Japan System Design Co., Ltd.
Sigma Co. Ltd.
Sanzo Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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