Optical elasticity measuring method and its device
WO2008010482
Art A1
24. Januar 2008
Anmelder: Keio University, TORAY ENGINEERING CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008010482
- Aktenzeichen
- EP07790838
- Anmeldetag
- 17. Juli 2007
- Veröffentlichung
- 24. Januar 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/23G01M11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Keio University
TORAY ENGINEERING CO., LTD. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Keio University
Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.
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