Method for sample preparation for cryoelectron microscopy (cem), microreactor and loading platform

WO2008010718 Art A2 24. Januar 2008

Anmelder: Technische Universiteit Delft 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008010718
Aktenzeichen: EP07793865
Anmeldetag: 23. Juli 2007
Veröffentlichung: 24. Januar 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N1/42H01J37/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Technische Universiteit Delft
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 Technische Universiteit Delft

Niederländische Technische Universität in Delft mit breiter Forschung in Ingenieurwissenschaften und angewandter Technik.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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