Scanning type probe microscope, and its probe relative-position measuring method

WO2008013268 Art A1 31. Januar 2008

Anmelder: National Institute for Materials Science, HORIBA, LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008013268
Aktenzeichen: EP07791467
Anmeldetag: 27. Juli 2007
Veröffentlichung: 31. Januar 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N13/10G01N13/12

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: National Institute for Materials Science
HORIBA, LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute for Materials Science

Japanisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Tsukuba, das auf Materialwissenschaft und Werkstoffforschung spezialisiert ist.

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🇯🇵 Horiba

Horiba ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher und analytischer Messinstrumente. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Softwarethemen. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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