Scanning type probe microscope, and its probe relative-position measuring method
WO2008013268
Art A1
31. Januar 2008
Anmelder: National Institute for Materials Science, HORIBA, LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008013268
- Aktenzeichen
- EP07791467
- Anmeldetag
- 27. Juli 2007
- Veröffentlichung
- 31. Januar 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N13/10G01N13/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- National Institute for Materials Science
HORIBA, LTD. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute for Materials Science
Japanisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Tsukuba, das auf Materialwissenschaft und Werkstoffforschung spezialisiert ist.
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