Multiple Pass Surface Plasmon Resonance Detector

WO2008016987 Art A2 7. Februar 2008

Anmelder: The Texas A&M University System 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008016987
Aktenzeichen: EP07813661
Anmeldetag: 1. August 2007
Veröffentlichung: 7. Februar 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/55

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: The Texas A&M University System
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas A&M University System

Verbund staatlicher Hochschulen und Forschungseinrichtungen in Texas, USA, mit breiter Forschungstätigkeit unter anderem in Agrarwissenschaft, Technik und Medizin.

581 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von