Double data rate test interface and architecture

WO2008017006 Art A2 7. Februar 2008

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008017006
Aktenzeichen: EP07813676
Anmeldetag: 2. August 2007
Veröffentlichung: 7. Februar 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/25

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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