Method for analyzing jitter characteristics and displaying a table or graph thereof

WO2008022025 Art A2 21. Februar 2008

Anmelder: Tektronix, Inc., Obata, Toshiaki 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008022025
Aktenzeichen: EP07840856
Anmeldetag: 10. August 2007
Veröffentlichung: 21. Februar 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/40

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Tektronix, Inc.
Obata, Toshiaki
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Tektronix, Inc.

US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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