Signal generating apparatus, testing apparatus and circuit device
WO2008023486
Art A1
28. Februar 2008
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008023486
- Aktenzeichen
- EP07744217
- Anmeldetag
- 28. Mai 2007
- Veröffentlichung
- 28. Februar 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04L25/03G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.