Variable delay circuit, timing generator and semiconductor testing apparatus

WO2008023624 Art A1 28. Februar 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008023624
Aktenzeichen: EP07792551
Anmeldetag: 15. August 2007
Veröffentlichung: 28. Februar 2008
Rechtsraum: WO
IPC: H03K5/13G01R31/3183H03K5/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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