Near-field light measuring method and near-field light measuring device
WO2008026523
Art A1
6. März 2008
Anmelder: Tohoku University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008026523
- Aktenzeichen
- EP07806080
- Anmeldetag
- 24. August 2007
- Veröffentlichung
- 6. März 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/27G01N21/35
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tohoku University
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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Fachgebiete
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