Element judging device, method, program, recording medium and measuring device
WO2008026711
Art A1
6. März 2008
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008026711
- Aktenzeichen
- EP07806428
- Anmeldetag
- 24. August 2007
- Veröffentlichung
- 6. März 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R27/28G01R35/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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