Plasma generating method, organic material film etching method, negative ion generating method and oxidizing or nitriding treatment method
WO2008026712
Art A1
6. März 2008
Anmelder: NGK Insulators, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008026712
- Aktenzeichen
- EP07806432
- Anmeldetag
- 24. August 2007
- Veröffentlichung
- 6. März 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H05H1/46H01L21/3065H01L21/318
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NGK Insulators, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NGK Insulators
Japanisches Industrieunternehmen mit Sitz in Nagoya. NGK Insulators fertigt Keramikprodukte, darunter Isolatoren, Abgaskatalysatorträger, Sensoren und Energiespeichersysteme für Energieversorgung, Automobil und Industrie.
3.021 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.