Contamination evaluation method, contamination evaluating device, optical member fabricating method, optical multilayer body, and display product

WO2008029946 Art A1 13. März 2008

Anmelder: Dai Nippon Printing Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008029946
Aktenzeichen: EP07807019
Anmeldetag: 10. September 2007
Veröffentlichung: 13. März 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/94

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Dai Nippon Printing Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Dai Nippon Printing

Japanisches Unternehmen der Druckindustrie mit Sitz in Tokio, das sich über klassische Druckerzeugnisse hinaus in Elektronikmaterialien, Displaykomponenten und Verpackungslösungen diversifiziert hat.

1.824 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von