Method for fabricating light or radiation detector, and light or radiation detector
WO2008032461
Art A1
20. März 2008
Anmelder: Shimadzu Corporation, Institute of National Colleges of Technology, Japan 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008032461
- Aktenzeichen
- EP07741500
- Anmeldetag
- 12. April 2007
- Veröffentlichung
- 20. März 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L31/09G01T1/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Shimadzu Corporation
Institute of National Colleges of Technology, Japan - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shimadzu
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.
2.214 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.