A/d converter, a/d converting method, a/d converting program and control apparatus

WO2008032607 Art A1 20. März 2008

Anmelder: Advantest Corporation, Tokyo Institute of Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008032607
Aktenzeichen: EP07806670
Anmeldetag: 4. September 2007
Veröffentlichung: 20. März 2008
Rechtsraum: WO
IPC: H03M1/14

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Advantest Corporation
Tokyo Institute of Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Tokyo Institute of Technology

Japanische technische Universität in Tokio mit Schwerpunkt auf Natur- und Ingenieurwissenschaften. Seit 2024 firmiert sie im Zuge einer Fusion als Institute of Science Tokyo.

739 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik

Vertreten von