System, probe and method for performing an electromagnetic scan

WO2008035145 Art A1 27. März 2008

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc., Institut National Des Sciences Appliquees 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008035145
Aktenzeichen: EP06821311
Anmeldetag: 21. September 2006
Veröffentlichung: 27. März 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R29/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Freescale Semiconductor, Inc.
Institut National Des Sciences Appliquees
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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