Switching device and testing apparatus

WO2008035532 Art A1 27. März 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008035532
Aktenzeichen: EP07805969
Anmeldetag: 22. August 2007
Veröffentlichung: 27. März 2008
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/822G01R31/28H01L21/8247H01L27/04H01L27/115H01L29/788H01L29/792

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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