Delay circuit, jigger-apllied circuit, and tester

WO2008038594 Art A1 3. April 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008038594
Aktenzeichen: EP07807754
Anmeldetag: 21. September 2007
Veröffentlichung: 3. April 2008
Rechtsraum: WO
IPC: H03K5/13G01R31/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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