Method and system for facilitating preventive maintenance of an optical inspection tool
WO2008042572
Art A2
10. April 2008
Anmelder: TOKYO ELECTRON LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008042572
- Aktenzeichen
- EP07814841
- Anmeldetag
- 13. September 2007
- Veröffentlichung
- 10. April 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03B27/72
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOKYO ELECTRON LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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