Semiconductor testing apparatus and method of testing semiconductor memory

WO2008050527 Art A1 2. Mai 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008050527
Aktenzeichen: EP07792860
Anmeldetag: 22. August 2007
Veröffentlichung: 2. Mai 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/40G01R31/28G11C29/56

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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