Semiconductor inspection equipment and semiconductor inspection method

WO2008053518 Art A1 8. Mai 2008

Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008053518
Aktenzeichen: EP06812175
Anmeldetag: 30. Oktober 2006
Veröffentlichung: 8. Mai 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/305

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: TOPCON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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