Method for testing noise immunity of an integrated circuit and a device having noise immunity testing capabilities

WO2008056206 Art A1 15. Mai 2008

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008056206
Aktenzeichen: EP06821376
Anmeldetag: 8. November 2006
Veröffentlichung: 15. Mai 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/319

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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