Copper-metallized integrated circuits having an overcoat for protecting bondable metal contacts and improving mold compound adhesion
WO2008061128
Art A2
22. Mai 2008
Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008061128
- Aktenzeichen
- EP07845082
- Anmeldetag
- 14. November 2007
- Veröffentlichung
- 22. Mai 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/56H01L23/50
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Texas Instruments Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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