Electronic component test equipment and method for conveying tray
WO2008062522
Art A1
29. Mai 2008
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008062522
- Aktenzeichen
- EP06833159
- Anmeldetag
- 22. November 2006
- Veröffentlichung
- 29. Mai 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
610 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.