Device and method for testing a circuit

WO2008065480 Art A1 5. Juni 2008

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008065480
Aktenzeichen: EP06832020
Anmeldetag: 30. November 2006
Veröffentlichung: 5. Juni 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/267

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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