Semiconductor distance measuring element and solid-state imaging device

WO2008069141 Art A1 12. Juni 2008

Anmelder: National University Corporation Shizuoka University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008069141
Aktenzeichen: EP07832880
Anmeldetag: 30. November 2007
Veröffentlichung: 12. Juni 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01S17/10G01S17/89H01L27/14

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National University Corporation Shizuoka University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Shizuoka University

Die National University Corporation Shizuoka University ist eine staatliche japanische Universität mit Sitz in der Präfektur Shizuoka, bekannt für Forschung an bildgebenden Halbleitersensoren. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter- und elektrische Bauelemente sowie Mess- und Nachrichtentechnik. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2000 bis 2024 ab.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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