Photoelasticity measuring method, and apparatus therefor

WO2008069272 Art A1 12. Juni 2008

Anmelder: Keio University, TORAY ENGINEERING CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008069272
Aktenzeichen: EP07850201
Anmeldetag: 6. Dezember 2007
Veröffentlichung: 12. Juni 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01L1/24

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Keio University
TORAY ENGINEERING CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Keio University

Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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