System and method for radiation detection and imaging

WO2008070203 Art A1 12. Juni 2008

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008070203
Aktenzeichen: EP07870978
Anmeldetag: 8. Juni 2007
Veröffentlichung: 12. Juni 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01J5/00G01J5/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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