Test device and inspection method
WO2008072401
Art A1
19. Juni 2008
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008072401
- Aktenzeichen
- EP07807170
- Anmeldetag
- 12. September 2007
- Veröffentlichung
- 19. Juni 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319G01R29/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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