Methods of etching into silicon oxide-containing material, methods of forming container capacitors, and methods of forming dram arrays

WO2008073196 Art A1 19. Juni 2008

Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2008073196
Aktenzeichen
EP07861753
Anmeldetag
8. November 2007
Veröffentlichung
19. Juni 2008
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/8242H01L21/311H01L21/02
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Micron Technology, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Micron Technology

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.

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