Method of and apparatus for measuring electric field vector and microscope using same

WO2008075819 Art A1 26. Juni 2008

Anmelder: Seoul National University R&DB Foundation, Samsung Electronics Co., Ltd. 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008075819
Aktenzeichen: EP07715775
Anmeldetag: 23. März 2007
Veröffentlichung: 26. Juni 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01B21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Seoul National University R&DB Foundation
Samsung Electronics Co., Ltd.
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Seoul National University R&DB Foundation

Technologietransfer- und Forschungsförderungsstiftung der Seoul National University in Südkorea. Sie verwaltet und vermarktet die an der Universität entstandenen Forschungsergebnisse und Patente.

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🇰🇷 Samsung Electronics

Südkoreanischer Elektronikkonzern und Teil der Samsung-Gruppe. Entwickelt und produziert Halbleiter, Speicherchips, Displays, Smartphones, Unterhaltungselektronik sowie Haushaltsgeräte für den globalen Markt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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