Scanning Ion Conductance Microscopy Having Multipipette

WO2008075842 Art A1 26. Juni 2008

Anmelder: Korea Research Institute of Standards and Science, Ahn, Sang-Jung 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008075842
Aktenzeichen: EP07851235
Anmeldetag: 4. Dezember 2007
Veröffentlichung: 26. Juni 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N27/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Korea Research Institute of Standards and Science
Ahn, Sang-Jung
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Research Institute of Standards and Science

Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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