Test equipment and test method

WO2008078529 Art A1 3. Juli 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008078529
Aktenzeichen: EP07850210
Anmeldetag: 6. Dezember 2007
Veröffentlichung: 3. Juli 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/56G01R31/28G06F12/16G11C16/06

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von

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