Method for testing a variable digital delay line and a device having variable digital delay line testing capabilities

WO2008081347 Art A1 10. Juli 2008

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008081347
Aktenzeichen: EP07700546
Anmeldetag: 5. Januar 2007
Veröffentlichung: 10. Juli 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G01R31/30

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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