Methods and apparatuses for controlling gas flow conductance in a capacitively-coupled plasma processing chamber
WO2008082518
Art A2
10. Juli 2008
Anmelder: Lam Research Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008082518
- Aktenzeichen
- EP07870925
- Anmeldetag
- 19. Dezember 2007
- Veröffentlichung
- 10. Juli 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/3065H05H1/46
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Lam Research Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Lam Research
US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.
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