Method for detecting the alignment of films for automated defect detection
WO2008085163
Art A1
17. Juli 2008
Anmelder: GENERAL ELECTRIC COMPANY, General Electric Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008085163
- Aktenzeichen
- EP07716452
- Anmeldetag
- 9. Januar 2007
- Veröffentlichung
- 17. Juli 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/00G01N21/896
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- GENERAL ELECTRIC COMPANY
General Electric Company - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
General Electric
US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Massachusetts. Historisch aktiv in Energieerzeugung, Luftfahrttriebwerken, Medizintechnik und Industrietechnik über verschiedene Geschäftsbereiche.
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