Atomic microscope and interactive force measuring method using atomic microscope

WO2008087852 Art A1 24. Juli 2008

Anmelder: Osaka University, Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008087852
Aktenzeichen: EP08702742
Anmeldetag: 7. Januar 2008
Veröffentlichung: 24. Juli 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N13/16

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Osaka University
Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Osaka University

Staatliche Universität in Osaka, Japan, eine der führenden Forschungsuniversitäten des Landes mit Schwerpunkten in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.

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🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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