Defect detecting device, and defect detecting method
WO2008087961
Art A1
24. Juli 2008
Anmelder: Olympus Medical Systems Corp. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008087961
- Aktenzeichen
- EP08703269
- Anmeldetag
- 16. Januar 2008
- Veröffentlichung
- 24. Juli 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/88G06T1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Olympus Medical Systems Corp.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Olympus
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Olympus ist auf Medizintechnik spezialisiert, insbesondere Endoskopie- und Bildgebungssysteme, sowie auf wissenschaftliche Instrumente und Präzisionsoptik.
8.021 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.