Defect detecting device, and defect detecting method

WO2008087961 Art A1 24. Juli 2008

Anmelder: Olympus Medical Systems Corp. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2008087961
Aktenzeichen
EP08703269
Anmeldetag
16. Januar 2008
Veröffentlichung
24. Juli 2008
Rechtsraum
WO
IPC
G01N21/88G06T1/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Olympus Medical Systems Corp.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Olympus

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Olympus ist auf Medizintechnik spezialisiert, insbesondere Endoskopie- und Bildgebungssysteme, sowie auf wissenschaftliche Instrumente und Präzisionsoptik.

8.021 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen