Method of measuring physical property of tft liquid crystal panel, and device for measuring physical property of tft liquid crystal panel

WO2008090786 Art A1 31. Juli 2008

Anmelder: Toyo Corporation, Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008090786
Aktenzeichen: EP08703310
Anmeldetag: 16. Januar 2008
Veröffentlichung: 31. Juli 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G02F1/1368G02F1/13

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Toyo Corporation
Sharp Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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